Palfinger Günther: Modelling the Heterojunction Bipolar Transistor with VBIC, Austria Mikrosysteme International AG, Unterpremstätten

1999

Röhrer, Georg: Characterization, Simulation and Inverse Modelling of Bipolar Transistors, Austria Mikrosysteme International AG, Unterpremstätten

1998

Fankhauser, Bernd: Polymer Protective Coatings for MEMS Applications: KOH-Etch Protection
Physical Electronics Laboratory, ETH-Zürich

Fellner, Johannes: Messung und Modellierung des Rauschverhaltens von integrierten Transistoren, Austria Mikrosysteme International AG, Unterpremstätten

Höller, Helmut: Measurement and Modelling of the Matching of Semiconductor Devices in BiCMOS Technology, Austria Mikrosysteme International AG, Unterpremstätten

Hafner, Michaela: Beschleunigter Scheibentest für die Hochtemperatursperrlagerung Rahmen des Bipolarmonitoring Villach, Siemens Bauelemente OHG, Villach

Schindler, Stefan: Determination of Electrical Plasma Parameters and  Correlation with Etching
Characteristics,  Siemens Bauelemente OHG, Villach

1997

Feichtinger, Thomas: Electrochemical Etching of Resonant CMOS-Silicon n-well Structures
Physical Electronics Laboratory, ETH Zürich

1996

Csaszar, Wolfgang: Wasserstoffinduzierte Defekte in kristallinem Silizium (PhD- thesis), Siemens AG, München

Knoblinger, Gerhard: Modellierung und Parameterextraktion von bipolaren Transistoren, Austria Mikrosysteme International AG, Unterpremstätten

Knoch, Ernst Wolfgang: Hybrider integriert-optischer Transceiver auf einer Silizium-Mikrobank, Halbleitertechnologie der Technischen Universität Hamburg-Harburg

Rathei, Dieter: Analysis of IC Functional Yield by Correlation to Defect, Process, and E-Test Data,
Siemens München

Schindler, Stefan:     Determination of Electrical Plasma Parameters and  Correlation with Etching
Characteristics,  Siemens Bauelemente OHG, Villach

Schneebacher, Christoph J: Parameter Optimization for the MOS Transostor Model BSIM3 in an Industrial Circuit Simulation Environment for Mixed Analog-Digital Design,  Austria Mikrosysteme International AG, Unterpremstätten

Zechner, Christoph: Computerunterstützte Untersuchungen an Hochleistungs - Silizium - Solazellen, Angewandte Experimentalphysik, Universität Konstanz

1995

Jalili, Pooran: The PTC-Thermistor in its Thermal Environment, Siemens-Matsushita Bauelemente, Deutschlandsberg

Minixhofer, Rainer: Aspects of Process Simulation, Austria Mikrosysteme International AG, Unterpremstätten

1993

Seebacher, Ehrenfried: Ladungs- und Kapazitätsmodellierung von MOS Transistoren für die Simulation von Analogen Integrierten Schaltungen, Austria Mikrosysteme International AG, Unterpremstätten

1992

Csaszsar, Wolfgang: Störstellenspektroskopie an wasserstoff- uind kohlenstoffdotiertem Silizium, Siemens AG, München

Hassler, Günther: Untersuchung metallischer Kontaminationen auf Siliziumoberflächen, Siemens Bauelemente OHG, Villach

Hesse, Christian: Untersuchung von Heißleiterkeramiken für Hochtemperaturanwendungen, Siemens-Matsushita Bauelemente, Deutschlandsberg

Stadler, Manfred: Über den Einfluß von Korngrenzen und Diffusionsprozessen auf die Lebensdauer von Vielschichtkondensatoren, Siemens-Matsushita Bauelemente, Deutschlandsberg

Wellenzohn, G.C.: Der Surface Charge Analyzer, Siemens Bauelemente OHG, Villach

1991

Fritz, Martin: Untersuchung der elektrischen Langteitstabilität polykristalliner Heißleiterkeramiken, Siemens-Matsushita Bauelemente, Deutschlandsberg

Grobbauer, Peter: Analyse und Ursachenfindung von Inhomogenitäten in ZnO-Varistorkeramiken der Niederspannung, Siemens-Matsushita Bauelemente, Deutschlandsberg

Hofer, Georg F.: Failure Mechanisms in CMOS Gate Arrays, Siemens AG, Augsburg

1990

Gruhn, Bernd: Über den Einfluss der Korngröße des Umsatzpulvers von BaTiO3-Keramiken auf deren elektrische und physikalische Parameter, Siemens-Matsushita Bauelemente, Deutschlandsberg

Schrank, Franz: Modellierung von Bipolartransistoren in CMOS Technologie für die Simulation von analogen integrierten Schaltungen, Austria Mikrosysteme International AG, Unterpremstätten

1988

Hölzl, Werner: Modelling of MOS-transistors for the SPICE-Simulation of analogue integrated circuits, Austria Mikrosysteme International AG, Unterpremstätten

Wachmann, Ewald W.: Modulierte optische Reflektivitätsmessungen zur Charakterisierung von Prozessen der Halbleitertechnologie, Siemens Bauelemente OHG, Villach
 

1986

Ankele, Benno: Spektroskopische Untersuchungen an kristallinem, orientiertem trans-Polyacetylen